外傷性低顱內(nèi)壓綜合征別名：外傷性低顱內(nèi)壓綜合癥
外傷性低顱內(nèi)壓綜合征
(一)發(fā)病原因
外傷后低顱內(nèi)壓綜合征常見于以下情況：傷后腦血管痙攣、休克、嚴(yán)重脫水、低血鈉等，使脈絡(luò)叢分泌腦脊液功能受抑制，使腦脊液產(chǎn)生過少;腦脊液漏腰椎穿刺釋放腦脊液及腦脊液自針孔流出蛛網(wǎng)膜下腔，可使腦室系統(tǒng)及蛛網(wǎng)膜下腔的腦脊液量減少。
(二)發(fā)病機制
正常顱內(nèi)壓的范圍，由腰椎穿刺測定應(yīng)在7.84～11.8kPa(80～120mmH2O)之間。一般顱腦損傷后的顱內(nèi)壓，常有不同程度的升高，而表現(xiàn)為低顱壓者較少，間或有些病人傷后早期曾經(jīng)有過顱內(nèi)壓升高，嗣后又出現(xiàn)顱內(nèi)低壓。
外傷后低顱內(nèi)壓綜合征的發(fā)病機制尚未闡明，腦脊液的產(chǎn)生減少或吸收流出過多可能與外傷后低顱壓綜合征的發(fā)生有密切關(guān)系。發(fā)生頭痛的原因可能與顱內(nèi)血管受到牽扯或推壓有關(guān);與顱內(nèi)容量減少而使腦膜的張力產(chǎn)生順應(yīng)性變化有關(guān);或與顱腔容量代償性調(diào)節(jié)，使血量與腦脊液量互補，所引起的顱內(nèi)血管擴張有關(guān)。
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